電磁兼容測(cè)試儀器是電力行業(yè)應(yīng)用率較高的設(shè)備，通過分析電磁兼容測(cè)試結(jié)果可充分了解電氣設(shè)備的電磁干擾狀況，有針對(duì)性的加以改進(jìn)，降低電氣設(shè)備造成的電磁不良干擾。

　　1　電快速脈沖群發(fā)生器校準(zhǔn)

　　電快速脈沖群(EFT/B)發(fā)生器主要應(yīng)用在試驗(yàn)中，以檢測(cè)電子、電氣設(shè)備對(duì)瞬變擾動(dòng)的抗擾性情況。為保證試驗(yàn)正常進(jìn)行，需應(yīng)用容性耦合夾與去耦網(wǎng)絡(luò)、直流主電源端口耦合、EFT/B 發(fā)生器。國(guó)內(nèi)外有很多生產(chǎn) EFT/B 發(fā)生器廠家， EFT/B 發(fā)生器包括的技術(shù)指標(biāo)有：在 100kHz 脈沖重復(fù)頻率時(shí)，脈沖群周期 0.75ms±20%;在 5kHz 脈沖重復(fù)頻率時(shí)，脈沖群周期為15ms±20%。并且在不同負(fù)載條件下單脈沖電壓峰值并不同。例如，當(dāng)負(fù)載為 50Ω 是 ±10%，而當(dāng)負(fù)載達(dá)到 1000Ω 時(shí)單脈沖電壓峰值是20%。在對(duì) EFT/B 發(fā)生器進(jìn)行校準(zhǔn)操作時(shí)，需應(yīng)用衰減器和帶寬不能低于 400MHz 的示波器相連進(jìn)行發(fā)生器輸出的校準(zhǔn)，儀器校準(zhǔn)內(nèi)容包括脈沖群脈沖的重復(fù)頻率、脈沖持續(xù)時(shí)間、脈沖上升時(shí)間。考慮到實(shí)際情況，IEC 對(duì) EFT/B 發(fā)生器輸出波形的校準(zhǔn)進(jìn)行規(guī)定，即要求在負(fù)載為 50Ω、1000Ω 下均應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　2　電壓變化發(fā)生器、諧波測(cè)試儀器校準(zhǔn)

　　2.1　電壓變化發(fā)生器校準(zhǔn)

　　電壓變化發(fā)生器主要應(yīng)用在測(cè)試電壓變化抗擾度上，以了解電網(wǎng)供電時(shí)的電壓變化狀況，其中時(shí)間相位控制電路、電壓測(cè)試部分、電源是主要構(gòu)件。實(shí)際應(yīng)用中校準(zhǔn)電壓變化發(fā)生器包括的主要內(nèi)容有：確保輸出電壓的準(zhǔn)確度，尤其當(dāng)發(fā)生器 40%、70%、 有效輸出電壓應(yīng)滿足運(yùn)行電壓百分比要求;注重負(fù)載能力的控制，當(dāng) 40% 輸出應(yīng)將電壓變化控制在 10% 以內(nèi);當(dāng) 70% 輸出 23A 時(shí)將電壓變化控制在7%;當(dāng) 輸出 16A 時(shí)，電壓變化控制在 5% 以內(nèi)。同時(shí)，還應(yīng)注重考慮開關(guān)特性、沖擊電流驅(qū)動(dòng)能力等。

　　2.2　諧波測(cè)試儀器校準(zhǔn)

　　諧波測(cè)試儀器具備諧波電壓、諧波電流、功率分析儀等測(cè)試功能，其中交流電源、諧波分析儀是主要構(gòu)成部分。相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)諧波測(cè)試進(jìn)行規(guī)定，一般情況下要求諧波測(cè)試儀應(yīng)能對(duì)不超過 16A 的諧波電流實(shí)施 40 次以內(nèi)的諧波電流分析。同時(shí)，對(duì)諧波測(cè)試儀器的準(zhǔn)確度進(jìn)行規(guī)定，要求準(zhǔn)確度應(yīng)比 5% 讀數(shù)和 0.2% 額定電流更優(yōu)。針對(duì)諸如60Hz、50Hz 基波頻率低且能獨(dú)立使用的諧波分析儀，可借助標(biāo)準(zhǔn)交流電源對(duì)諧波電流與電壓進(jìn)行儀器校準(zhǔn)。針對(duì)諸如 400Hz 的基波頻率較高或無(wú)法與可編程交流電源分離的諧波分析儀，儀器校準(zhǔn)時(shí)可采用標(biāo)準(zhǔn)諧波分析儀配合可編程交流電源進(jìn)行。

　　3　電磁騷擾測(cè)量接收機(jī)校準(zhǔn)

　　電磁騷擾測(cè)量接收機(jī)(EMI 接收機(jī))可用于測(cè)量較強(qiáng)幅值、微弱連續(xù)波信號(hào)的脈沖信號(hào)等，其中輸出指示、檢波器、中頻放大器、本機(jī)振蕩器、混頻器、射頻放大器、校準(zhǔn)信號(hào)源、輸入衰減器等構(gòu)成，具有多種檢波方式、脈沖響應(yīng)特性、測(cè)量靈敏度高、測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍大等優(yōu)點(diǎn)。抗擾度與無(wú)線電干擾測(cè)量設(shè)備相關(guān)規(guī)范詳細(xì)要求了 EMI 接收機(jī)性能指標(biāo)，尤其脈沖響應(yīng)、中頻帶寬、衰減器、正弦波電壓測(cè)量準(zhǔn)確度是關(guān)鍵參數(shù)，脈沖響應(yīng)值應(yīng)滿足表 1 的要求。

　　其中當(dāng)頻率范圍在 9-150kHz 時(shí)，重復(fù)頻率較 100Hz 大時(shí)，受脈沖重疊影響無(wú)法明確判定該頻段的響應(yīng)。

　　4　電波暗室的校準(zhǔn)

　　電波暗室是開展電磁兼容性試驗(yàn)的重要場(chǎng)所，尤其在抗輻射干擾能力、射頻輻射騷擾試驗(yàn)中應(yīng)用率較高。電波暗室由全電波暗室、半電波暗室之分，其中半電波暗室指地面以外的五個(gè)面均貼有吸波材料的暗室;全電波暗室指留個(gè)面均貼有希波材料的暗室。電波暗室的校準(zhǔn)主要體現(xiàn)在場(chǎng)均勻性、歸一化場(chǎng)地衰減項(xiàng)目上，其中場(chǎng)地均勻性要求在測(cè)試平面內(nèi)規(guī)定的 16 點(diǎn)中，將 4 個(gè)點(diǎn)剔除掉，其余 12 點(diǎn)中的小與大值差值不能達(dá)到 6dB;歸一化場(chǎng)地衰減要求，頻率范圍在30MHz~1000MHz，測(cè)得值和標(biāo)準(zhǔn)差不應(yīng)超過 ±4dB。儀器校準(zhǔn)場(chǎng)均勻性主要在空的暗室中實(shí)施，選擇發(fā)射天線的位置時(shí)應(yīng)考慮校正域范圍不應(yīng)超過發(fā)射場(chǎng)主瓣寬度。同時(shí)，場(chǎng)發(fā)射天線和場(chǎng)傳感器應(yīng)保持不足 1m的距離，天線和EUT相距3m為宜。將校正區(qū)域劃分成均勻的16個(gè)點(diǎn)，點(diǎn)與點(diǎn)之間的距離在 0.5m，其中低點(diǎn)應(yīng)高于地面 0.8m。信號(hào)經(jīng)功率放大器放大后，借助發(fā)射天線使得測(cè)試平面場(chǎng)強(qiáng)達(dá)到3V/m~10V/m，使用各向同性的場(chǎng)強(qiáng)探頭，對(duì)每個(gè)點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)進(jìn)行測(cè)量，獲得其中數(shù)值較為接近的 12 個(gè)值，并且小值與大值之差不超過 6dB 時(shí)，可判定測(cè)試平面為均勻的。儀器校準(zhǔn)歸一場(chǎng)地衰減主要借助寬帶掃頻法實(shí)現(xiàn)，具體實(shí)施流程為：在電波暗室的旋轉(zhuǎn)臺(tái)附近設(shè)定“測(cè)試空間”，將發(fā)射天線安裝在該測(cè)試空間的左、右、前、后、中間位置，分別校準(zhǔn)不同高度發(fā)射天線，以及水平和垂直極化方向。當(dāng)發(fā)射天線高度固定后，接收天線會(huì)在 1~4m 范圍中升降，以接收大值信號(hào)。另外，儀器校準(zhǔn)前后需對(duì)電纜衰減情況進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　綜上所述，電磁兼容測(cè)試儀器類型眾多，不同的儀器有著不同的儀器計(jì)量校準(zhǔn)規(guī)范要求，以及具體的儀器計(jì)量校準(zhǔn)實(shí)施方法，為提高電磁兼容測(cè)試儀器計(jì)量校準(zhǔn)水平，指導(dǎo)計(jì)量校準(zhǔn)工作開展，儀器計(jì)量人員應(yīng)注重不同電磁兼容測(cè)試儀器計(jì)量校準(zhǔn)方法學(xué)習(xí)與研究，積累豐富的計(jì)量校準(zhǔn)經(jīng)驗(yàn)，不斷提高計(jì)量校準(zhǔn)質(zhì)量。